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G100U/G150U正立式激光干涉仪工作站
G100U和G150U是44118太阳成城集团新开发的两款正立式激光干涉仪工作站,有效口径分别为101.6mm(4英寸)和152.4mm(6英寸)。可以测量平面面形、球面面形和曲率半径,选配双五维载物台,可以测量透过波前和非球面的补偿法测量。
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G100D和G150D立式激光干涉仪
G100D和G150D立式激光干涉仪的有效口径分别为101.6mm(4英寸)和152.4mm(6英寸)。
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G100/G150/G200 立式激光平面干涉仪
G200M,G150M和G100M专为计量和科研需求设计,适用于计量机构检定和校准光学平晶。其集高性能、长寿命氦氖激光器,高清光学系统,1-6倍图像放大功能和精密平面标准镜等一系列高精技术,选配Sirius抗振移相干涉条纹分析软件,实现高精密平面光学元件的测量。
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G100/G150 卧式激光干涉仪
G系列激光干涉仪定位高性价比的精密激光干涉仪,可以进行平面面形、平行度、波前和材料均匀性,球面面形、曲率半径以及光学系统波像差等几乎所有的干涉测量,可测量材料包含玻璃、塑胶、陶瓷、硅片和抛光的金属。